再次執(zhí)行POP后，可以看到面3的網(wǎng)格寬度如同預(yù)期是30mm，將面9上的光束放大后可以看到中心遮擋區(qū)域的解析度有了很大的提升，像素造成的鋸齒邊緣缺陷也有了明顯的改善

在做了前面兩個改動之后，可以看出直到面13（第二篇透鏡的后表面）為止，取樣率都是沒問題的。但是在像表面上的取樣率還是比較差。

由于光束從第二個透鏡后表面往后經(jīng)過很長一段光程聚焦成一個點(diǎn)，因此在像面上的解析度會跟第二個透鏡的后表面上的網(wǎng)格寬度成反比，則增加第二個透鏡后表面上的網(wǎng)格寬度就可以解決像面上的取樣問題。

總結(jié)

每次執(zhí)行POP，都要詳細(xì)確認(rèn)所有設(shè)置是否正確，執(zhí)行結(jié)束后也要逐面檢查整個系統(tǒng)傳播過程是否沒問題。

要檢查Prop Report欄是否有顯示計(jì)算錯誤。

執(zhí)行POP時，每一個面上的光束文件（beam file）是否都存儲下來，文件格式為.ZBF。

通過Beam File Viewer，可以檢視系統(tǒng)中每個面上的光束文件。

我們還可以光線追跡的開始時，使用保存光線功能將光線保存為SDF或DAT格式的文件。例如，如果想要保存入射到物體4的光線， 保存光線的語法如下所示（其中“4-”表示物體的編號）：

新的數(shù)據(jù)文件將導(dǎo)入到非序列元件編輯器中，以進(jìn)行后續(xù)的光線追跡。 然而，復(fù)雜幾何體光源存在一個比較大的問題：你需要知道所有輸入數(shù)據(jù)的具體值！例如，電極線的表面應(yīng)該使用什么樣的散射函數(shù)？基底封裝的反射率是多少？類似這樣的數(shù)據(jù)并不容易獲取。最后，復(fù)雜模型的光源數(shù)據(jù)必須與測試數(shù)據(jù)相符。這就帶來另一個問題，為什么不直接使用測量的數(shù)據(jù)呢？ 通常來講，使用測量的數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確并且操作方便。但是對于某些系統(tǒng)來說，特別是光源中產(chǎn)生的光線會反射回光源物體處并重新成像時，建立一個準(zhǔn)確的復(fù)雜幾何體光源是值得的。 兩種方式也可以同時使用：定義復(fù)雜物體的同時使用測量的文件光源發(fā)射初始光線。