1、按照布局分三大類：固定電容器、可變電容器和微調(diào)電容器。

2、按電解質(zhì)分類：無機介質(zhì)電容器、無機介質(zhì)電容器、電解電容器和空氣介質(zhì)電容器等。

3、按用處分有：高頻旁、低頻旁、濾波、調(diào)諧、高頻耦合、低頻耦合、小型電容器。

4、按制造材料的分歧能夠分為：瓷介電容、滌綸電容、電解電容、鉭電容，還有先輩的聚丙烯電容等等

5、高頻旁：陶瓷電容器、云母電容器、玻璃膜電容器、滌綸電容器、玻璃釉電容器。

6、低頻旁：紙介電容器、陶瓷電容器、鋁電解電容器、滌綸電容器。

7、濾波：鋁電解電容器、紙介電容器、復(fù)合紙介電容器、液體鉭電容器。

8、調(diào)諧：陶瓷電容器、云母電容器、玻璃膜電容器、聚苯乙烯電容器。

9、低耦合：紙介電容器、陶瓷電容器、鋁電解電容器、滌綸電容器、固體鉭電容器。

10、小型電容：金屬化紙介電容器、陶瓷電容器、鋁電解電容器、聚苯乙烯電容器、固體鉭電容器、玻璃釉電容器、金屬化滌綸電容器、聚丙烯電容器、云母電容器。

貼片陶瓷電容系列產(chǎn)品被稱為非溫度補償性元件，即在不同的工作環(huán)境下，電容量會有比較顯著的變化，在不同的工作環(huán)境下，電容標(biāo)稱值與實際容值之間的差異。例如，在40℃的測試容量將比25℃的測試容量低了接近20%。由此可見，在外部環(huán)境溫度比較高的情況下，電容容值的測試值就會顯得偏低。

我們通常建議放置在20℃的環(huán)境下一段時間，使材料處于穩(wěn)定的測試環(huán)境下在進行容值測試。

   貼片陶瓷電容產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象

   材料老化是指電容的容值隨著時間降低的現(xiàn)象，這再所有以鐵電系材料做介電質(zhì)的材料產(chǎn)品中均有發(fā)生，是一種自然的不可避免的現(xiàn)象。原因是因為內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)隨溫度和時間產(chǎn)生了變化導(dǎo)致了容值的下降，屬于可逆現(xiàn)象。當(dāng)對老化的材料施加高于材料居里溫度段時間后（建議進行容值恢復(fù)所使用之條件為150℃/1hour），當(dāng)環(huán)境溫度恢復(fù)到常溫后（常溫25℃下放置24小時）,材料的分子結(jié)構(gòu)將會回到原始的狀態(tài)。材料將由此開始老化的又一個循環(huán)，貼片電容的容值將恢復(fù)到正常規(guī)格之內(nèi)。

   用以上方式驗證，把測試容量偏低的電容器浸在錫爐或者回流焊后，再進行測試，容值會恢復(fù)到正常范圍之間。

貼片熱敏電阻有分為三類，其中一類就是NTC熱敏電阻。NTC是一種隨溫度上升電阻呈指數(shù)關(guān)系減小、具有負(fù)溫度系數(shù)的的材料。是由錳、銅、硅、鈷、鐵、鎳、鋅等兩種或兩種以上的金屬氧化物進行充分混合、成型、燒結(jié)等工藝而成的半導(dǎo)體陶瓷。

一般，金屬的電阻值會隨溫度的升高而增大，但半導(dǎo)體則相反，它的電阻值隨溫度的升高而急劇減小，并呈現(xiàn)非線性。

 NTC熱敏電阻的半導(dǎo)體大多是尖晶石結(jié)構(gòu)或其他結(jié)構(gòu)的氧化物陶瓷，具有負(fù)的溫度系數(shù)，電阻值可近似表示為：

 Rt=RT*EXP(Bn*（1/T-1/T0)

 式中RT、RT0分別為溫度T、T0時的電阻值，Bn為材料常數(shù)。陶瓷晶粒本身由于溫度變化而使電阻率發(fā)生變化，這是由半導(dǎo)體特性決定的。

 它的測量范圍一般為-10～+300℃，也可做到-200～+10℃，甚至可用于+300～+1200℃環(huán)境中作測溫用。

 NTC熱敏電阻可適用于移動電話，汽車電話，無繩電話等通訊設(shè)備；打印機、傳真機、文字處理機等辦公設(shè)備；錄像機、DVD、CD等消費類電子設(shè)備。也可應(yīng)用于食品儲存、衛(wèi)生、科學(xué)種田、海洋、深井、高空、冰川等溫度的測量。