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X射線衍射儀

中諾新材分析測試設(shè)備——X射線衍射儀                                              

  Rigaku 靶材晶向比例分析系統(tǒng)（XRD）可直接用于檢測直徑在500mm以下的固體金屬材料的內(nèi)部織構(gòu)。X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，當(dāng)X 射線照射晶態(tài)結(jié)構(gòu)時(shí)，將受到晶體點(diǎn)陣排列的不同原子或分子所衍射。當(dāng)用波長為λ的單色X射線照射到兩個(gè)晶面間距為d的晶面時(shí)會(huì)發(fā)生布拉格定律衍射，即2dsinθ=nλ（n為整數(shù)）θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。應(yīng)用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象。稀土因其獨(dú)特優(yōu)異的性質(zhì)，是當(dāng)今世界發(fā)展高新科技和國防技術(shù)不可或缺的戰(zhàn)略資源，被廣泛應(yīng)用于超導(dǎo)、光學(xué)材料、材料、電子材料、核物理材料等領(lǐng)域。特征X射線作用于安裝在測角儀上的晶體后產(chǎn)生衍射點(diǎn)，通過檢測器記錄衍射點(diǎn)的強(qiáng)度數(shù)據(jù)。通過計(jì)算機(jī)控制完成衍射的自動(dòng)尋峰、測定晶胞參數(shù)、收集衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)消光規(guī)律，確定空間群等。進(jìn)而計(jì)算晶體結(jié)構(gòu)。

中諾新材分析測試設(shè)備——精密低電阻測試儀                                          

  精密電阻測試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的精密電阻測試儀。它可以量測0.001Ω·CM～100Ω·CM的電阻

基本準(zhǔn)確度：0.01%

200000數(shù)顯示位數(shù)

十一個(gè)量程自動(dòng)或手動(dòng)測試輸出電流3A。

提供0.1μΩ ~ 110MΩ測試范圍。

150次/秒，10次/秒，2次/秒的測試速度。