熒光光譜分析儀

GY-MARS/T 5700B型X熒光光譜分析儀是GY-MARS/T 5700升級型產(chǎn)品，他在GY-MARS/T 5700基礎(chǔ)上優(yōu)化了結(jié)構(gòu)，提升了工藝，擴(kuò)展了功能。相比GY-MARS/T 5700，他的外觀更加美觀，結(jié)構(gòu)更加合理，增加了鍍層檢測、無鹵素測試等功能，能夠幫助您解決更多生產(chǎn)、檢測中的問題。由于儀器其它配置的區(qū)別，以及技術(shù)、軟件、服務(wù)等的差異，價(jià)格落差還是比較大的，選擇時(shí)要綜合參考。

GY-MARS/T 5700B型X熒光光譜分析儀推出市場已有7年時(shí)間，期間不斷完善，精益求精。經(jīng)過多年的市場驗(yàn)證，GY-MARS/T

5700B是一臺功能強(qiáng)大、質(zhì)量可靠的RoHS分析儀。他能夠幫助用戶快速篩選產(chǎn)品中的有害物質(zhì)（PB、CD、BR、CR、HG、AS），還可以進(jìn)行無鹵素檢測、鍍層厚度檢測。

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RoHS分析儀原理

北京京國藝科技發(fā)展有限公司專業(yè)生產(chǎn)、銷售RoHS分析儀，我們?yōu)槟治鲈摦a(chǎn)品的以下信息。

RoHS檢測的學(xué)名是X熒光光譜儀(XRF)。X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光(二次X射線)，探測器對X熒光進(jìn)行檢測。

受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放she出二次X射線，并且不同的元素所放she出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放she出來的二次X射線的能量及數(shù)量。RoHS光譜分析儀RoHS光譜分析儀分析原理波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長:nλ=2dsinaθ(n=1,2,3…)式中，λ為分析譜線波長。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:

λ=K(Z? s) ?2

式中K和S是常數(shù)。

而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個(gè)光具有的能量為:

E=hν=h C/λ

式中，E為X射線光子的能量，單位為keV;h為普朗克常數(shù);ν為光波的頻率;C為光速。

因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。

RoHS分析儀簡介

金屬測試樣品的厚度至少要達(dá)到3mm，若單一樣品厚度不足，可堆疊數(shù)個(gè)樣品至適當(dāng)厚度。其它合金必須至少1mm厚。3、IT及通訊儀器:計(jì)算機(jī)、傳真機(jī)、電話機(jī)、手機(jī)等、電動(dòng)工具。 油墨或其它液體需用樣品杯進(jìn)行量測，深度達(dá)到15mm；體積小的顆粒也應(yīng)置于樣品杯壓緊，且容積應(yīng)達(dá)到樣品杯的2/3。表面處理層應(yīng)盡量與本體分離（如涂層）：對于確實(shí)無法分離的（如鍍層），可對表面處理層進(jìn)行初篩（如使用XRF光譜儀等手段），篩選合格則不拆分；篩選不合格，可使用機(jī)械或非機(jī)械方法分離（如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的溶液溶解提?。?。

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