RoHS分析儀

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能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量:

Q=kE式中，K為入射射線的光子能量;Q為探測器產生的相應電荷量;k為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征的信息。

待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

RoHS分析儀原理

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RoHS檢測的學名是X熒光光譜儀(XRF)。X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品，產生X熒光(二次X射線)，探測器對X熒光進行檢測。

受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放she出二次X射線，并且不同的元素所放she出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。RoHS指令分析儀RoHS指令分析儀我國頒布的《電子電氣設備中限制使用某些有害物質指令》明確指出在中華人民共和國境內生產、銷售和進口電子信息產品過程中控制和減少電子信息產品對環(huán)境造成污染及產生其它公害，適用本辦法。探測系統(tǒng)測量這些放she出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關，其數(shù)學關系如下:

λ=K(Z? s) ?2

式中K和S是常數(shù)。

而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為:

E=hν=h C/λ

式中，E為X射線光子的能量，單位為keV;h為普朗克常數(shù);ν為光波的頻率;C為光速。

因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據(jù)此，可以進行元素定量分析。

RoHS分析儀貴嗎

RoHS分析儀價格從幾萬到幾十萬之間。我們大體以探測器來區(qū)分，給出一個大致的范圍。分析速度和系統(tǒng)處理能力得到顯著提高，計數(shù)率可達400萬，測試效率和穩(wěn)定性提高了4倍。半導體探測器配置的RoHS分析儀一般在十萬到十五萬；硅漂移探測器配置的RoHS分析儀一般在十四到到貳拾萬。由于儀器其它配置的區(qū)別，以及技術、軟件、服務等的差異，價格落差還是比較大的，選擇時要綜合參考。