

東莞市準(zhǔn)納光電科技有限公司
主營產(chǎn)品: 光學(xué)玻璃, 玻璃線紋尺
Nidek-晶片平坦度-翹曲度測量儀FT-17-Nidek高精密平面度檢測儀
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Nidek 晶片平坦度/翹曲度測量儀FT-17和FT-900(Si/Ge/GaAs/InP/SiC/LT/LN)
Nidek高精密平面度檢測儀, 適用于透明晶體物體(如藍(lán)寶石晶片等)和LED外延晶片、芯片的檢測。
其應(yīng)用不僅局限于對藍(lán)寶石襯底單面/雙面的表面平坦檢測,而且更多地應(yīng)用于對外延之后,外延層表面品質(zhì)、TTV等的檢測和評估。
在電腦顯示屏上,它可自動生成三維立體的表面彩色效果圖,以幫助人們清楚細(xì)微地、直觀地了解和掌握對象物表面層生長的情況。
此外,它也適用于液晶電視屏幕面板所需要的大而平的圖形掩膜的檢測。
FT-17 Series | FT-900 Series | |||||
無解析 無顯示 | 帶解析 | 帶解析 (V2規(guī)格) | 無解析 無顯示 | 帶解析 | 帶解析 (V2規(guī)格) | |
測定方法 | 光波干涉方式(斜入射) | |||||
光源 | 半導(dǎo)體激光(655nm、3mW) | He-Ne激光(632.3A、5mW) | ||||
樣本尺寸 | 直徑130mm以下 (平坦度測定100mm以下) | 直徑200mm以下 | ||||
樣本厚度 | 2000um以下(根據(jù)測量承載臺不同,最大可達(dá)10mm),其他厚度需客戶另行協(xié)商 | |||||
樣本種類 | Wafer(Si、化合物、酸化物、玻璃)、金屬片、硬盤(鋁、玻璃)等鏡面和非鏡面(反射率低的非鏡面不可測試) | |||||
樣本傾斜角度 | 垂直方向傾斜8度 | 垂直或垂直方向傾斜8度 | ||||
干涉計(jì)設(shè)定敏感度 | 1、2、3、4、5u/紋理(下底面基準(zhǔn)時只有1、2um/紋理,且厚度1mm以上時1um/紋理) | |||||
測定范圍 | 紋理敏感度30倍(根據(jù)紋理狀況以及測試鏡頭倍率關(guān)系,有時不能達(dá)到30倍) | |||||
攝影鏡頭倍率 | 3倍以上 | |||||
顯示分解能 | 0.01um | 0.01um | ||||
重復(fù)精度 Repeatability:1б | 0.02S+0.02M(um) 條件:樣本設(shè)定后連續(xù)測試 S:紋理敏感度 M:測定值 | 0.02S+0.02M(um) 條件:樣本設(shè)定后連續(xù)測試 S:紋理敏感度 M:測定值 |
Nidek高精密平面度檢測儀, 適用于透明晶體物體(如藍(lán)寶石晶片等)和LED外延晶片、芯片的檢測。
其應(yīng)用不僅局限于對藍(lán)寶石襯底單面/雙面的表面平坦檢測,而且更多地應(yīng)用于對外延之后,外延層表面品質(zhì)、TTV等的檢測和評估。
在電腦顯示屏上,它可自動生成三維立體的表面彩色效果圖,以幫助人們清楚細(xì)微地、直觀地了解和掌握對象物表面層生長的情況。
該產(chǎn)品目前已在國內(nèi)大手廠商中廣泛采用,特別是在外延片的品質(zhì)檢測方面。頗受好評。
據(jù)不完全統(tǒng)計(jì),至2012年底該產(chǎn)品已被國內(nèi)LED襯底和外延片80多家廠家所使用。
測試項(xiàng)目
吸附:GFLR、GF3D、GF3R、TV、GBIR、TAPER、TAng、SFLR、SFLD、SFQR、SF3R、SF3D、SBIR、SBID
非吸附:BOW、SORI、整體應(yīng)力、局部應(yīng)力
可測試晶片種類
切割片、研磨片、拋光片、外延片、磊晶片
可選配光刻區(qū)域模擬軟件、應(yīng)力分析軟件等