麥奇克Microtrac粒徑儀維修 Microtrac數(shù)據(jù)顯示異常維修公司常州凌科自動化科技有限公司位于江蘇常州武進(jìn)經(jīng)開區(qū)，是目前江蘇省內(nèi)最具規(guī)模的一家維修服務(wù)公司，因我們過硬的技術(shù)和周到的服務(wù)贏得廣大客戶和業(yè)內(nèi)同行的優(yōu)質(zhì)口碑！

  包括樣品因素和環(huán)境因素等，在粒度測量中我們常常會遇到這樣的情況，同一個樣品，不同的儀器往往測出不同的結(jié)果，一些粉體生產(chǎn)廠家和用戶往往會根據(jù)個子的粒度數(shù)據(jù)來評定產(chǎn)品質(zhì)量，從而產(chǎn)生種種分歧，所以粒度測試數(shù)據(jù)的不一致是 透鏡上的灰塵，介質(zhì)中殘留的顆粒，介質(zhì)溫度低于室溫引起的玻璃外表面的霧滴等，如果靠近探測器中心的探測單元，尤其是第1，2單元過高，一般是有光束對中不良引起的，如果所有的探測單元的背景信號都過低，很可能是激光器功率下降或者濾波偏移造成的

麥奇克Microtrac粒徑儀維修 Microtrac數(shù)據(jù)顯示異常維修公司對中是指激光束的焦點(diǎn)通過光電探測陣列的圓心，激光粒度儀在測試前首先要保證激光束的焦點(diǎn)通過光電探測陣列的圓心，并且在測試過程中不偏移，才能得到正確的結(jié)果。目前粒度 i1，i2為衍射光強(qiáng)度函數(shù)(i1=i2)，J1為一階Bessel函數(shù)，θ為衍射角，對于Fraunhofer衍射，總的消光系數(shù)Ke=2[3]，文獻(xiàn)[7]直接運(yùn)用Fraunhofer衍射測量大顆粒的粒徑儀采用的都是兩維對中系統(tǒng)，一般采用步進(jìn)電機(jī)通過軸套來帶動移動尺來提供動力，步進(jìn)電機(jī)和軸套、軸套和移動尺之間都是通過頂絲連接，導(dǎo)致三個器件的中心不在一條直線上，且移動尺正轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)的之間的空轉(zhuǎn)間隙較大，導(dǎo)致對中系統(tǒng)不穩(wěn)定，不能快速而準(zhǔn)確地完成對中，現(xiàn)有對中系統(tǒng)都沒有限位系統(tǒng)，如果光路本身出現(xiàn)問題，對中系統(tǒng)就會出現(xiàn)誤判斷，一直朝著一個方向運(yùn)動損壞機(jī)械傳動組件。針對目前現(xiàn)有激光粒度儀的技術(shù)的不足，微納公司提供一種設(shè)計合理、結(jié)構(gòu)簡單緊湊、使用方便的三維自動對中系統(tǒng)。 干法，油品等各種場合的顆粒計數(shù)，國內(nèi)顆粒計數(shù)器的研究工作起步并不晚，但是除了歐美克的電阻法計數(shù)器外，尚未見光學(xué)計數(shù)器商業(yè)化的產(chǎn)品，4)納米顆粒測試技術(shù)有待突破納米顆粒測試越來越受到重視，電鏡是一種測試納米顆粒粒度與形態(tài)zui常用的方法為了提高對中系統(tǒng)的度，減小空轉(zhuǎn)長度，采用帶絲杠的步進(jìn)電機(jī)作為動力部件。為了提高對中系統(tǒng)的穩(wěn)定性，采用消隙的滑軌作為機(jī)械傳動組件的核心部件。為提高對中速度和防止出現(xiàn)誤操作，采用光電傳感器與限位片結(jié)合的方式來限位。 進(jìn)行系統(tǒng)比較講究，僅適合對塵埃，污染物或已稀釋好的進(jìn)行測量，對一般粉體用的不多，(8)透氣法，優(yōu)點(diǎn):儀器價格低，不用對樣品進(jìn)行分散，可測測性材料粉體，缺點(diǎn):只能得到平均粒度值，不能測粒度分布,不能測小于5um細(xì)粉

(2)其次，加入粉末樣品，觀察儀器能譜信號是否響應(yīng)快，能譜連續(xù)，無波動跳變，(3)對于配有自檢系統(tǒng)的儀器，自檢系統(tǒng)會自動檢測儀器狀態(tài)，并給出操作提示，粒度儀需要進(jìn)行量值對比的理由有三個:(1)目前，我國使用的粒度儀種類較多 一般來講，循環(huán)掃描測試次數(shù)越多，平均結(jié)果的準(zhǔn)確性越好，故速度越高越好,噴射式干法和噴霧更要求速度越高越好,自由降落式干法雖然速度不快，但由于粒子只通過樣品區(qū)一次，速度也是快一些好，用戶每天需要處理的樣品量 直接影響產(chǎn)品質(zhì)量，傳統(tǒng)上粉體的粒度測試采用人工采制樣或機(jī)械采制樣，加人工實驗室化驗的方法，這種方法有很多的的缺點(diǎn):1，取制樣誤差大，以局部代表整體過程,存在代表性問題,2，不在線,不實時,分析數(shù)據(jù)嚴(yán)重滯后,3

麥奇克Microtrac粒徑儀維修 Microtrac數(shù)據(jù)顯示異常維修公司與儀器重復(fù)性測量不同的是，儀器相對誤差的測試要采用至少三種樣品以上的國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行測試，每種樣品獨(dú)立測量3次并分別求其平均值，獲得多個粒度測量的平均值，分別計算儀器測量平均值與粒度表標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)值間的相對誤差。 因此顆粒特性測試往往專指幾何形態(tài)測試，主要包括顆粒大小及其分布測試，顆粒形狀參數(shù)測試，顆粒比表面測試，孔及其分布測試，2)顆粒測試的理論基礎(chǔ)應(yīng)該是顆粒形狀與顆粒大小的表征，由于顆粒形狀的復(fù)雜性，因此顆粒的表征是一個很困難的工作