美國(guó)PSS粒度儀維修 PSS粒度分析儀測(cè)量結(jié)果失真工控設(shè)備維修點(diǎn)平時(shí)我們?cè)谑褂妹绹?guó)PSS粒度儀維修時(shí)，使用時(shí)間長(zhǎng)了難免會(huì)遇到各種各樣的故障，如測(cè)量過(guò)程中斷、測(cè)量結(jié)果失真、參數(shù)不準(zhǔn)確、濃度沒(méi)有零點(diǎn)、數(shù)據(jù)顯示異常、測(cè)量數(shù)值一直變、不能開(kāi)機(jī)等故障，遇到這些故障時(shí)不要著急，凌科自動(dòng)化能幫你維修好，還您一個(gè)完好如初的美國(guó)PSS粒度儀維修

拍攝運(yùn)動(dòng)顆粒圖像，因此減少了載玻片上樣品制備的繁瑣操作，提高了采樣的代表性，而且可用于運(yùn)動(dòng)顆粒在線測(cè)量，這就大大擴(kuò)展了圖像分析技術(shù)的應(yīng)用范圍和可操作性，荷蘭安米德公司的粒度粒形分析儀是有代表性的產(chǎn)品，它采用CCD+頻閃技術(shù)測(cè)顆粒形狀 氧化鈉的含量較高，如今很多企業(yè)的原材料都是從國(guó)外進(jìn)口，但是受氧化鋁行業(yè)的影響，國(guó)外的一些氧化鋁的出口也進(jìn)行了控制，就比如這家，因?yàn)樵牧系墓?yīng)不上，生產(chǎn)線就減縮了，以至于某些客戶的單子也沒(méi)有接，由此我們可以看出:提高產(chǎn)品的質(zhì)量對(duì)于企業(yè)的生產(chǎn)與影響有重要的意義 后來(lái)又在全范圍內(nèi)采用，稱(chēng)為“全Mie理論”，原先以為大顆粒的測(cè)量可以使用Fraunhofer衍射理論，但是置于光場(chǎng)中的大顆粒除了具有衍射作用外，還有由幾何光學(xué)的反射和折射引起的幾何散射作用

美國(guó)PSS粒度儀維修平時(shí)維修保養(yǎng)注意事項(xiàng)：
、儀器的全套設(shè)備不論是否處于工作狀態(tài)，都應(yīng)放置在清潔干燥的環(huán)境中。 那么如何運(yùn)用虛光源呢，在實(shí)驗(yàn)中我們將前向虛光源與后向虛光源分別置于散射裝置的中心軸，一定要將對(duì)準(zhǔn)虛光源的位置，這一步處理是非常關(guān)鍵的，它決定著能否準(zhǔn)確探測(cè)散射信息，如果缺少這一步，那么對(duì)散射光的探測(cè)方向與它實(shí)際的散射方向?qū)⒂幸惠^大的差別
第二、粒度儀的全套設(shè)備不用時(shí)應(yīng)蓋上致密的防塵布。 該公司在的研發(fā)中使用濟(jì)南微納公司生產(chǎn)的Winner3003干法激光粒度儀對(duì)的粒度進(jìn)行了控制，從而控制了所研制的片劑的溶出度，保證了藥效的大化，四，激光粒度儀的應(yīng)用前景激光衍射法是當(dāng)前的粒度分析方法，顆粒通過(guò)激光束時(shí)
第三、美國(guó)PSS粒度儀維修 PSS粒度分析儀測(cè)量結(jié)果失真工控設(shè)備維修點(diǎn)當(dāng)測(cè)完一種樣品，必須取下進(jìn)樣料斗，讓儀器自動(dòng)執(zhí)行清洗料倉(cāng)程序，確保下一種樣品的測(cè)量的可靠性。并且用毛刷清除進(jìn)樣料斗上的殘余樣品。 每一根都要對(duì)準(zhǔn)其測(cè)量范圍內(nèi)的虛光源，然后這幾根光纖再通過(guò)一選通裝置同時(shí)接入一個(gè)光電倍增管，將散射信息在計(jì)算機(jī)上顯示出來(lái)，通過(guò)分析軟件直接對(duì)信號(hào)處理，后即可得出該信號(hào)所對(duì)應(yīng)顆粒粒度的結(jié)果，氧化鋁顆粒大小對(duì)其性能的影響一

第四、激光粒度儀測(cè)量單元連續(xù)開(kāi)機(jī)時(shí)間不宜超過(guò)5小時(shí)。 采用光束掃描技術(shù)測(cè)顆粒大小，可測(cè)zui大粒徑為6毫米，如果顆粒在光學(xué)采樣過(guò)程不發(fā)生離析現(xiàn)象，此種儀器在微米與毫米級(jí)顆粒測(cè)量中可能會(huì)得到廣泛的應(yīng)用，顆粒圖像分析技術(shù)需要解決的另一個(gè)問(wèn)題是三維測(cè)量，動(dòng)態(tài)顆粒圖像采集由于顆粒采集的各向同性因此可以解決在載波片上顆粒方位的偏析問(wèn)題
第五、空氣壓縮機(jī)應(yīng)參照說(shuō)明書(shū)定期更換機(jī)油。 榮躍龍，程路，用激光散射法測(cè)量大顆粒時(shí)使用衍射理論的誤差[J]，粉體技術(shù)，1996，2(1):712張福根，現(xiàn)代激光粒度儀采用全Mie理論的必要性[D]，見(jiàn):張福根:粒度測(cè)量基礎(chǔ)理論與研究論文集，珠海:歐美克科技有限公司
第六、吸塵器收到的測(cè)試廢料要定期清理?；虍?dāng)儀器指示負(fù)壓不足時(shí)，必須清理。 關(guān)鍵詞:顆粒測(cè)試,技術(shù)進(jìn)展,發(fā)展趨勢(shì),基本問(wèn)題,知識(shí)產(chǎn)權(quán)1.前言隨著顆粒技術(shù)的發(fā)展，顆粒測(cè)試技術(shù)已經(jīng)受到廣泛的關(guān)注與重視，本文就目前顆粒測(cè)試領(lǐng)域的新進(jìn)展，談一點(diǎn)個(gè)人的淺見(jiàn)，請(qǐng)各位指教，本文談及的問(wèn)題有:顆粒測(cè)試技術(shù)進(jìn)展

第七、美國(guó)PSS粒度儀維修 PSS粒度分析儀測(cè)量結(jié)果失真工控設(shè)備維修點(diǎn)計(jì)算機(jī)關(guān)機(jī)必須按規(guī)定的步驟進(jìn)行，切不可貿(mào)然關(guān)斷電源，否則可能造成難以彌補(bǔ)的損失。 圖3圖4圖1圖2如圖1-圖5分別為Rayleigh散射和粒徑為2nm-1960nm的Mie散射在極坐標(biāo)下的歸一化光強(qiáng)，圖中徑向?yàn)橄鄬?duì)光強(qiáng)，橫向?yàn)樯⑸浣?，散射角?度到360度，入射光波長(zhǎng)為632.8nm