丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品完全可以與國外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術人才具有豐富的設計制造經(jīng)驗。多年來與各大學、科研院所保持著緊密的合作關系。

熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。

X射線膜厚儀采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。鼠標可控制平臺，鼠標點擊的位置就是被測點。高分辨率探頭使分析結果更加。良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護。

丞普諾儀器（蘇州）有限公司以誠信、實力和質量獲得業(yè)界的高度認可，堅持以客戶為核心，“質量到位、服務”的經(jīng)營理念為廣大客戶提供的服務。