
安原儀器X熒光測厚儀涂鍍層檢測
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性能優(yōu)勢:
1. 微小樣品檢測:最小測量面積0.0085mm2
2. 變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-90mm
3. 核心EFP算法:Al(13)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測,多層多元素,甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量
4. 先進(jìn)的解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限
5. 高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積50mm2探測器
6. X射線裝置:微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置
7. 上照式設(shè)計(jì):實(shí)現(xiàn)對超大樣品或者密集點(diǎn)位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量
8. 大行程移動(dòng)平臺:手動(dòng)XY滑臺100*150mm,自動(dòng)XY平臺200*200mm
應(yīng)用領(lǐng)域:涂鍍層分析-RoHS檢測-地礦全元素分析-合金、貴金屬檢測
一六儀器研制的測厚儀獨(dú)特的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達(dá)到視覺與測試定位一體,且X光擴(kuò)散度??;與EFP軟件配合達(dá)到對焦、變焦雙焦功能,實(shí)現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時(shí)特征X射線可以穿透測試更厚的表層
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):
研制的測厚儀獨(dú)特的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達(dá)到視覺與測試定位一體,且X光擴(kuò)散度極?。慌cEFP軟件配合達(dá)到對焦、變焦雙焦功能,實(shí)現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時(shí)特征X射線可以穿透測試更厚的表層。
獨(dú)創(chuàng)EFP算法:
采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數(shù)法,基于熒光X射線激發(fā)的基本原理,從理論上計(jì)算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線的熒光強(qiáng)度,在基于此計(jì)算Lachance綜合校正系數(shù),然后使用這些理論a系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)。
只需少數(shù)標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬以及有機(jī)物層。
