我國學(xué)者對不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。

基本參數(shù)法已用于常規(guī)分析。在定量分析過程中，進(jìn)行基體校正時(shí)，在20世紀(jì)80年代初商用軟件配有經(jīng)驗(yàn)影響系數(shù)法校正的程序，今天各個(gè)廠家生產(chǎn)的儀器配置了在線基本參數(shù)法程序或可變理論影響系數(shù)法程序，當(dāng)試樣的物理化學(xué)形態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)樣品相似的情況下，使用少量標(biāo)準(zhǔn)樣品甚至一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品，也可以獲得的定量分析結(jié)果。

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司）創(chuàng)立于2005年，十三年來堅(jiān)持服務(wù)于國內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域，專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù)，是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富，種類齊全，涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。

EDXRF 光譜儀的特點(diǎn)：

儀器結(jié)構(gòu)簡單小巧，省略了精密運(yùn)動裝置

沒有分光晶體

X射線管功率低（一般＜50W）

無需昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng)（空氣冷卻即可）

可同時(shí)執(zhí)行元素分析

優(yōu)點(diǎn)在于X射線利用率高，可同時(shí)檢測多元素，價(jià)格低；

缺點(diǎn)是靈敏度低、分辨率低、檢出限高（相對于WDXRF）.

WDXRF一般由光源（X-射線管）、樣品室、分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。它可以分析從鈹

(Be) 到鈾

(U) 的各種元素， 濃度范圍從100 % 到低至亞 ppm

級。

ZSX Primus III+具有場新的上照射式光學(xué)配置。用戶再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。

高精度樣品定位

高精度樣品定位確保了樣品表面與X設(shè)吸納管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應(yīng)用非常重要。ZSX Primus III+使用一個(gè)獨(dú)特的光學(xué)配置執(zhí)行高精度分析，用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導(dǎo)致的錯(cuò)誤。

SQX 基本參數(shù)軟件與EZ掃描軟件

用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個(gè)節(jié)省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，快速提供準(zhǔn)確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和的掃描分析程序提高準(zhǔn)確性。