低溫環(huán)境可靠性測試設(shè)備

應(yīng)用于：芯片IC半導(dǎo)體，電子，鋰電，凍庫，國防科技，研究所，大專院校等其他工業(yè)產(chǎn)品的可靠性測試以及老化，運送，極端環(huán)境自動裝配等。