我國學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。

定性和半定量分析自動(dòng)化。在20世紀(jì)80年代，由有經(jīng)驗(yàn)的分析工作者通過查閱掃譜圖來判斷定性分析結(jié)果，但要依據(jù)定性分析結(jié)果估算為含量是十分困難的。現(xiàn)在商品儀器基本上配有定性和無標(biāo)準(zhǔn)樣(半)定量分析軟件，在絕大多數(shù)情況下不僅自動(dòng)給出樣品的元素組成，還可得出近似定量的分析結(jié)果。

X射線熒光光譜分析在20世紀(jì)80年代初已是一種成熟的分析方法，是實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場(chǎng)分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）,從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長(zhǎng)色散型和能量色散型兩種，適用于測(cè)定鈹

(Be)以上的化學(xué)元素的含量。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，分析精度高，樣品制備簡(jiǎn)單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。

ZSX Primus III+

用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個(gè)節(jié)省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，快速提供準(zhǔn)確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和的掃描分析程序提高準(zhǔn)確性。

儀德人的深耕細(xì)作下，客戶遍及汽車制造、鋼鐵冶金、有色金屬、電子電器、能源電力、石油化工、鐵路運(yùn)輸、機(jī)械制造、商檢、質(zhì)檢、環(huán)境保護(hù)、食品藥品和教學(xué)科研等各行各業(yè)。

Features

從O到U的元素分析

上照射式光學(xué)化污染

小占地面積節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間

高精度樣品定位

特殊光學(xué)減少由于彎曲的樣品表面造成的錯(cuò)誤

統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）的軟件工具

優(yōu)化抽空和真空泄露率改善吞吐量