

北京波恩儀器儀表測控技術(shù)有限公司
店齡5年 ·
企業(yè)認(rèn)證 ·
北京市昌平區(qū)
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北京波恩儀器儀表測控技術(shù)有限公司
主營產(chǎn)品: 隧道能見度一氧化碳, 隧道COVI檢測器, 隧道亮度檢測器, 隧道照度檢測器, 色溫檢測器, 交通氣象站, 熱成像測溫儀, 人體溫度篩選篩查儀, 紅外熱成像測溫儀, 能見度儀, 超聲波風(fēng)速風(fēng)向檢測器, 路面狀況檢測器, 結(jié)冰傳感器, 天氣現(xiàn)象儀, 空氣質(zhì)量監(jiān)測站, 大氣光通過率儀, 便攜式能見度儀, 便攜式光通過率儀, 黑體熱成像測溫儀, 非接觸式人體測溫儀, 人臉識別測溫一體機(jī), 團(tuán)霧能見度儀, 一體式氣象站, 激光云高儀, 明渠流量計(jì), 多普勒流速儀, 多參數(shù)水質(zhì)監(jiān)測儀, 自動(dòng)蒸發(fā)站, 網(wǎng)格化環(huán)境氣象監(jiān)測站
波恩儀器銷售德國SENTECH-SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀-低成本的光譜橢偏儀
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波恩儀器銷售德國SENTECH SENpro經(jīng)濟(jì)型可變?nèi)肷浣枪庾V橢偏儀 低成本的光譜橢偏儀
成本效益
SENpro是具成本效益的光譜橢偏儀,同時(shí)不影響先進(jìn)測量性能。
可變?nèi)肷浣?/span>
光譜橢偏儀SENpro包括可變?nèi)肷浣堑慕嵌扔?jì),40°—90°,步進(jìn)值5°,用于優(yōu)化橢偏測量。
步進(jìn)掃描分析器
SENpro具有獨(dú)特的步進(jìn)掃描分析器。在數(shù)據(jù)采集過程中,偏振器和補(bǔ)償器固定,以提供高的橢偏測量精度。
光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單,測量速度快,能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進(jìn)行組合分析等特點(diǎn)。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結(jié)合,可以輕易地確定單層膜和復(fù)合層疊膜的厚度和折射率。
具有成本效益的桌面式SENpro包括可見光到近紅外橢偏儀光學(xué),5°步進(jìn)角度計(jì),樣品臺、激光準(zhǔn)直器、光纖耦合穩(wěn)定光源和探測器單元。SENpro配備了用于系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析的光譜橢偏儀軟件SpectraRay/4 ,用于包括建模,擬合和報(bào)告輸出。即使對于初學(xué)者,該程序文件操作都非常容易。SpectraRay/4 支持計(jì)算機(jī)控制的用于均勻性測量的自動(dòng)掃描。
SENpro專注于薄膜測量的速度和精度,不管是何種薄膜應(yīng)用。測量范圍從1 nm的薄層膜到15 μm的厚層膜。
對于各種各樣的應(yīng)用,SpectraRay/4都提供了預(yù)定義的配方。


SENpro 是全新的經(jīng)濟(jì)型光譜橢偏儀的代表, 操作簡易, 多角度或單角度入射快速測量并分析數(shù)據(jù)。 SENpro可測量單層膜或多層膜的膜厚、折射率和消光系數(shù)。也能夠測量各角度入射反射光譜和透射光譜,并同橢偏測量數(shù)據(jù)結(jié)合分析。使用補(bǔ)償器,可自動(dòng)糾正非理想薄膜導(dǎo)致的退偏效應(yīng)。
SENpro 帶有光譜橢偏儀分析軟件 SpectraRay LT,可對系統(tǒng)硬件控制和數(shù)據(jù)分析, 如測量數(shù)據(jù)、建模、擬合和輸出結(jié)果。
主要應(yīng)用:
1,測量透明薄膜的厚度和折射率(厚度范圍0.1 nm - 10,000 nm),可工作于透明或吸收基底。
2,測量多層膜
3,分析非晶硅、多晶硅薄膜和SOI膜
4,測量光刻膠的光學(xué)常數(shù)
5,分析有機(jī)薄膜
6,測量各向異性材料和薄膜

