銷售回收安捷倫4339B毫歐表HP4339B

安捷倫4339B毫歐表HP4339B

特點(diǎn)

＊測(cè)量范圍寬：1×103～1.6×1016Ω

＊測(cè)試夾具穩(wěn)定：比電阻盒，元件測(cè)試夾具

＊測(cè)量速度高：10ms

＊按測(cè)試順序編程

＊計(jì)算電阻率

＊被測(cè)器件可接地測(cè)量

規(guī)格

測(cè)量參數(shù)：R（直流電阻），I（直流電流），ps（表面電阻率），pv（體電阻率）

數(shù)學(xué)功能：偏差和百分偏差

顯示數(shù)字：3，4或5位（可選擇）

測(cè)試電壓：0.1～1000Vdc

0.1～200Vdc時(shí)，以0.1V步進(jìn)

0.1～1000Vdc時(shí)，以1V步進(jìn)

電壓精度：≤200V時(shí)為0.16％+100mV

＞200V時(shí)為0.16％+500mV

大電流：≤100V時(shí)為10mA；≤250V時(shí)為5mA

≤500V時(shí)為2mA；≤1000V時(shí)為1mA

電流相容性調(diào)定：0.5mA,1mA,2mA,5mA,10mA

輸出電阻：1KΩ±10％

輸入電阻：1KΩ±10％

測(cè)試電纜長(zhǎng)度：2 m （ 大值）

測(cè)量范圍和精度：

直流電阻：1×103～1.6×1016Ω 基本精度：±0.6％

測(cè)量時(shí)間：短：10ms；中：30ms；長(zhǎng)：390ms

修正功能：

開路誤差為0：由測(cè)試夾具中雜散寄生電阻引起的測(cè)量誤差

測(cè)試序列程序：控制一系列電阻測(cè)量。充電時(shí)間、測(cè)量間隔時(shí)間和測(cè)量次數(shù)可以編程。

比較功能：對(duì)測(cè)量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限