射頻（RF）探針在射頻產品生命周期中幾乎每一個階段都起著重要作用：從技術開發(fā)，模型參數提取，設計驗證及調試一直到小規(guī)模生產測試和終的生產測試。通過使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開發(fā)時間縮短并且大大降低開發(fā)新產品的成本。
奧納科技銷售射頻探針，主要是日本muRata村田探針。
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圖片列表為常用型號圖片，僅作為展示使用，請以實物為準。

村田探針主要與帶開關的高頻同軸連接器和高頻同軸連接器相匹配來測試使用。不同型號的高頻同軸連接器對應的村田探針型號也不相同，不同的排列方式也有不同體積的探針選擇。

村田自動探針（無張力型）可用于產線大批量測試，其與帶浮動機構的自動探針功能相同，該探針具有結構，因此不受電纜張力影響，該探針使轉換電纜更易操作。

我們提供于村田連接器的一系列測量探針，請使用村田連接器的村田探針
MuRata村田射頻探針常用型號推薦：
MM126036、MM126310、MM126320、MM121497、MM121496、MM121491
MM121490、MM121660、MM121600、MM121500、MM121531、MM121537
MM121546、MM121592、MM206612、MM201618、MM206417、MM206810
MM126515、MM126715、MM126712、MM206819、MM201613、MM201670
MM201554、MM201610、MM201552、MM121661、MM121542、MXFQB1PY1000
其他一些相關的概念
Probe pitch：指的是針尖(Probe Tips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對于毫米波頻率的應用，針尖間距一般都比較小。
Probe skate :當你在Z軸方向往下“按壓”探針時，當探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個現(xiàn)象。
De-embeding :去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術，之前經常用在一些標準的分立的夾具測試中。