ZERO ION G3-500A

Ionic Contamination/Cleanliness Tester

PCB 離子污染度/清潔度測(cè)試系統(tǒng)

ZERO ION G3-500A 是第三代根據(jù) IPC J-STD 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的 電阻率溶劑萃取發(fā)（ROSE）測(cè)試儀。新的 Win 10 ZERO ION 測(cè)試軟件具有更友好的用戶界面，更簡(jiǎn)易方便的操作，而持續(xù) 的動(dòng)態(tài)測(cè)量技術(shù)以高可靠性、 穩(wěn)定性的浸入式絮流沖洗方式， 提供高精度和高靈敏度的清潔度循環(huán)測(cè)量。

FEATURES 性能特點(diǎn)

超靈敏動(dòng)態(tài)測(cè)量技術(shù)

內(nèi)置通用測(cè)試藍(lán)框支架
一體化控制電腦平臺(tái)

重型不銹鋼框架和不銹鋼桌面板，工業(yè)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，耐腐蝕、防靜電

領(lǐng)先的過(guò)程控制統(tǒng)計(jì)（spc）數(shù)據(jù)記錄

自動(dòng)溫度補(bǔ)償非加熱浸入式絮流連續(xù)過(guò)濾

積分取樣分析法數(shù)據(jù)庫(kù)

圖形觸摸屏和鍵盤操作界面

直觀向?qū)叫ｒ?yàn)程序，自動(dòng)修正內(nèi)置軟件測(cè)試補(bǔ)償

自動(dòng)密碼調(diào)用

有線和無(wú)線網(wǎng)絡(luò)可選

內(nèi)置表面面積計(jì)算器

測(cè)試報(bào)告存檔

溶劑萃取物阻值（ROSE）測(cè)試技術(shù)

ZERO ION 是溶劑萃取測(cè)試電阻率的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。動(dòng)態(tài) 測(cè)量技術(shù)提供了高靈敏和高精確的清潔度測(cè)試數(shù)據(jù)， 符合WS6536、IPCJ-STD001 TM650標(biāo)準(zhǔn)和其他現(xiàn) 行規(guī)范。

動(dòng)態(tài)測(cè)試法是EMPF/USNavy MIL2000A 創(chuàng)建的最靈 敏的離子污染量測(cè)試法，其連續(xù)的液下絮流過(guò)濾設(shè)計(jì) 提供可重復(fù)的精確的過(guò)程控制。

高可靠高靈敏度測(cè)試

通過(guò)離子計(jì)數(shù)器將所 有過(guò)濾下來(lái)的離子以積分方式統(tǒng)計(jì)計(jì)算出離子 總量和 ug/in2 或 ug/cm2 單位面積的離子污染 量。

結(jié)合眾多的操作員經(jīng)驗(yàn)專為 ZERO-ION 設(shè)計(jì)開發(fā) 的測(cè)試控制平臺(tái)，操作簡(jiǎn)單，功能強(qiáng)大，功能包括 條形碼掃描、SQL 數(shù)據(jù)庫(kù)服務(wù)器、aSPC 記錄、密 碼保護(hù)、污染度報(bào)告、實(shí)時(shí)圖表、數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)和幾乎 無(wú)限的測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)。

測(cè)試報(bào)告包含通過(guò)/失敗狀態(tài)、離子總量、工件面積、單位面積離子污染量、測(cè)試時(shí)間、操作者、產(chǎn) 品備注等信息，以數(shù)據(jù)庫(kù)形式存儲(chǔ)和調(diào)用，以 PDF 形式顯示和打印

系統(tǒng)校驗(yàn)程序直觀和簡(jiǎn)便，工具條指示校驗(yàn)步 驟，設(shè)置低中高三點(diǎn)校驗(yàn)流程，系統(tǒng)校驗(yàn)數(shù)據(jù) 自動(dòng)保存到系統(tǒng)校驗(yàn)參數(shù)中，并產(chǎn)生校驗(yàn)報(bào)告 文件。

TEST SCREEN 測(cè)試軟件屏幕

測(cè)試結(jié)果