華測(cè)高溫?zé)犭姴牧蠀?shù)測(cè)試儀

一、熱電材料介紹：

熱電材料（也稱溫差電材料(thermoelectric materials））是一種利用固體內(nèi)部載流子運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)熱能和電能直接相互轉(zhuǎn)換的功能材料，熱電效應(yīng)是電流引起的可逆熱效應(yīng)和溫差引起的電效應(yīng)的總稱，包括塞貝克（Seebeck）效應(yīng)、波爾貼（Peltier）效應(yīng)和湯姆遜（Thomson）效應(yīng)。

1823年，德國(guó)人塞貝克（Seebeck）首先發(fā)現(xiàn)當(dāng)兩種不同導(dǎo)體構(gòu)成閉合回路時(shí)，如果兩個(gè)接點(diǎn)的溫度不同，則兩接點(diǎn)間有電動(dòng)勢(shì)產(chǎn)生，且在回路中有電流通過，即溫差電現(xiàn)象或塞貝克效應(yīng)。通常用無量綱熱電優(yōu)值ZT來衡量材料的熱電性能。

二、華測(cè)高溫?zé)犭姴牧蠀?shù)測(cè)試儀儀器介紹：

     HGRED-800測(cè)試儀通過紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫差控制器組合使用，可控制樣品的溫度。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高的精度。加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體靜態(tài)或流動(dòng)），操作簡(jiǎn)單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。自動(dòng)壓力保護(hù)設(shè)計(jì)，美國(guó)航天級(jí)硬件配置，確保測(cè)試。

三、華測(cè)高溫?zé)犭姴牧蠀?shù)測(cè)試儀設(shè)備配置：

主要熱電材料體系

lBi2Te3/Sb2Te3體系

lPbTe體系

lSiGe體系

lCoSb3為代表的方鉆礦型熱電材料

lZn4Sb3

四、華測(cè)高溫?zé)犭姴牧蠀?shù)測(cè)試儀儀器特點(diǎn)：

1. 同步測(cè)量塞貝克系數(shù)和電阻系數(shù)

2. 配置垂直或水平放樣結(jié)構(gòu)，滿足不同用戶的要求，方便樣品操作

3. 鉑金大電極設(shè)計(jì)，與樣品充分接觸，對(duì)于不均勻樣品也可獲得良好的導(dǎo)電測(cè)試

4. 可配置雙加熱系統(tǒng)，不均勻樣品的溫差控制

5. 高級(jí)應(yīng)用程序控溫技術(shù)，包括溫差和測(cè)量步進(jìn)等高級(jí)要求

6. 0-50K范圍的溫差可隨意設(shè)置溫差值及溫差點(diǎn)的個(gè)數(shù)

7. 自由升/降溫、可控制溫度程序，進(jìn)行升溫、恒溫與降溫過程中的數(shù)據(jù)測(cè)量

8. 溫度檢測(cè)可選S/C型熱電偶，最適合測(cè)量Si系列熱電材料（SiGe,MgSi等）

9. 熱電偶探針非K型（無需鎧裝）配置，不會(huì)產(chǎn)生非常大的接觸電阻

10. 熱電偶間距可以跟根據(jù)樣品尺寸調(diào)節(jié)或固定，滿足不同科研要求

11. 自動(dòng)壓力保護(hù)設(shè)計(jì)，確保測(cè)試過程中不會(huì)發(fā)生爆炸

12. 測(cè)量系統(tǒng)：柱狀、片狀、長(zhǎng)方體、薄膜等系統(tǒng)

13. 可選測(cè)試10MΩ高電阻材料系統(tǒng)

五、華測(cè)高溫?zé)犭姴牧蠀?shù)測(cè)試儀軟件功能：

HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求。具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)，兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。

使用界面：

v 多語界面：支持中文/英文兩種語言界面

v 即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無需等待

v 圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，了解測(cè)試狀態(tài)

v 使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限方便管理

v 故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備故障的報(bào)警功能

設(shè)備參數(shù)：