高溫鐵電測(cè)試儀

一、高溫鐵電測(cè)試儀儀器簡(jiǎn)介：

Huace FE-2000 高溫鐵電測(cè)試儀用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量、可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中。本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)換器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。

Huace FE-2000 鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀主要由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、IーV特性及開(kāi)關(guān)特性,可地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值?？?/span>測(cè)鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時(shí)也可作為ー臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用。

二、高溫鐵電測(cè)試儀測(cè)試系統(tǒng)：

本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路,與傳統(tǒng)的 Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度。減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度。它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流lk等參數(shù),以及對(duì)鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試。能夠較準(zhǔn)確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡(jiǎn)單方便。

三、高溫鐵電測(cè)試儀軟件功能：

HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)haceprc，采用labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備強(qiáng)大的的穩(wěn)定性與性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)，兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。

使用界面：

2多語(yǔ)介面：支持中文/英文兩種語(yǔ)言界面；

2即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)須等待；

2圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明，了解測(cè)試狀態(tài)；

2使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

2故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

2集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙核處理器

2集成打機(jī)印接口，可擴(kuò)充8個(gè)USB接口

2支持16G內(nèi)存，60G固態(tài)硬盤，讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢。

四、高溫鐵電測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：

五、高溫鐵電測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、電滯回線測(cè)量、鐵電材料的飽和極化±PS、剩余極化±Pr、矯頑場(chǎng)±Ec、電容量C等參數(shù)

2、鐵電疲勞性能測(cè)量

3、鐵電保持性能測(cè)試

4、電阻測(cè)量

5、漏電流測(cè)量

6、高精度三維移動(dòng)平臺(tái)

六、高溫鐵電測(cè)試儀主要應(yīng)用：

1. 鐵電材料的電滯回線（動(dòng)態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。

2. 測(cè)量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)。

3. 超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性。