美國原裝進(jìn)口GE超聲波探頭 MB4S單雙晶直探頭斜探頭Krautkramer探頭

常規(guī)應(yīng)用 可用于德國KK USN60超聲波探傷儀、USM36S超聲波探傷儀、USM35XS超聲波探傷儀、USM GO超聲波探傷儀、USM86超聲波探傷儀等

  

 

    這個(gè)宣傳資料列出了我們各種型號的常規(guī)這些探頭性能優(yōu)越，可靠性高，能滿足非每個(gè)探頭都有詳細(xì)的符合DIN 25450標(biāo)準(zhǔn)探頭，這些探頭基本上能滿足所有常規(guī)檢 常嚴(yán)格的應(yīng)用要求，精度高，我們探頭的 的技術(shù)參數(shù)，技術(shù)參數(shù)都將與探頭一起寄測要求。技術(shù)參數(shù)都能控制在允許的誤差范圍內(nèi)。這些常規(guī)探頭都能用于各種標(biāo)準(zhǔn)超聲探傷儀。 

                                                                                                

 

 

 

 

雙晶探頭

 

    這種探頭有兩個(gè)超聲換能器，一個(gè)負(fù)責(zé)發(fā) 射超聲波，另一個(gè)負(fù)責(zé)接收反射回波（如圖1）。該探頭用來檢測近表面缺陷，還可測量表面或內(nèi)部腐蝕的剩余壁厚（如圖2所示）。

 

 

 

     另外，靈活的SEB和MSEB系列探頭，小接觸面積的SEB-KF系列探頭適用于檢測接觸面積小，結(jié)構(gòu)復(fù)雜的工件檢測。

型號	頻率		換能器尺寸		尺寸
	(MHz）		(mm）		?(mm)	高度(mm)
SEB*	1, 2, 4		6 x	20 or 7 x 18	45	65
MSEB*	2, 4,	5	3 x	10 or ? 8 (halved)	25	45
SEB*KF	2, 4,	5, 6, 10	? 7 or ? 5 (halved)		13	17

 

直探頭

 

    通過一個(gè)超聲換能器發(fā)射超聲波和接收反 射回波（如圖3）。能夠檢測與超聲波聲束 垂直的面狀缺陷（裂紋或層疊），也能檢測縮孔，氣孔，夾雜等缺陷。B*S和MB*S系列 探頭裝有可替換的保護(hù)膜，即使在粗糙表

    面上也同樣有良好的耦合效果。K*G， K*N，K*K，B*F和MB*F系列探頭具有硬質(zhì)保護(hù)膜（例如氧化鋁），該系列探頭具有 靈敏度高和脈沖窄（改善縱向分辨率） 等優(yōu)點(diǎn)，對表面光滑工件，具有獨(dú)特的優(yōu)勢。盡管如此，若在粗糙表面工件， B*S和MB*S系列探頭的保護(hù)膜有可能被構(gòu)件的尖銳表面劃傷，應(yīng)盡量使被檢工 件表面光滑。

 

型號	頻率	換能器尺寸	尺寸
	(MHz）	(mm）	?(mm)	高度(mm)
B+S	1, 2, 4, 5	24	45	59
MB*S	2, 4, 5	10	25	43
K*G	1, 2, 4, 6	24	45	60
K*N	2, 4, 6, 10	10	25	43
K*K	2, 5, 10, 15	5	11	17
B*F	1, 2, 4, 5	20	31	15
MB*F	2, 4, 5, 6, 10	10	19	15