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![百檢檢測(cè)](https://img1.zhaosw.com/zsw/upload/images/202205/12/0e7b38f1-30e7-4c3a-b6c8-907baa3dc5c6.jpg)
百檢檢測(cè)
主營產(chǎn)品: 檢測(cè)服務(wù)
透射電子顯微鏡樣品形貌分析檢測(cè)-百檢檢測(cè)
價(jià)格
訂貨量(次)
¥200.00
≥1
店鋪主推品 熱銷潛力款
萦萫萬萪萬萭营萬萨营萪
在線客服
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百檢檢測(cè)
店齡3年
企業(yè)認(rèn)證
聯(lián)系人
陳先生
聯(lián)系電話
萦萫萬萪萬萭营萬萨营萪
經(jīng)營模式
商業(yè)服務(wù)
所在地區(qū)
上海市徐匯區(qū)
主營產(chǎn)品
百檢檢測(cè)服務(wù)包括食品、環(huán)境、建材、電子、化工、汽車、家居、玩具、箱包、水質(zhì)、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項(xiàng)領(lǐng)域。更多檢測(cè)內(nèi)容請(qǐng)咨詢:15601902607。
高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析JEM2100F
1. 獲得納米材料,金屬材料,陶瓷材料的微觀形貌,孔隙情況,樣品顆粒大小等;
2. 獲得材料的高分辨數(shù)據(jù),晶格條紋,獲取晶體學(xué)參數(shù);
3. 獲得材料衍射花紋,判斷材料晶體學(xué)參數(shù);
4. 得到材料EDS信號(hào),表征材料元素分布,半定量分析材料元素含量等,可進(jìn)行面掃,點(diǎn)掃,線掃等方式;
高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析主要技術(shù)指標(biāo):
1、點(diǎn)分辨率:0.25nm;線分辨率:0.102nm;STEM分辨率:0.20nm
2、加速電壓:80,100,152 0173 3840,200KV
3、傾斜角(X/Y):±42/±30°;
4、配備德國Bruker公司XFlash 5030T型X射線能譜儀
應(yīng)用范圍:
1.應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析;
2.各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和半定量檢測(cè);
3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測(cè)定;
4.復(fù)合材料界面特性的研究。
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