Langer-EMV-LF1-set-近場探頭組Near-Field
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經(jīng)營模式
經(jīng)營批發(fā)
所在地區(qū)
廣東省深圳市
Short description
Langer-EMV LF1 set 近場探頭組Near-Field Probes
LF 1近場探頭組包含4個屏蔽無源近場探頭,用于在研發(fā)階段測量電子模塊上長波、中波和短波區(qū)的射頻磁場。使用LF 1探頭組的探頭,可以逐步定位集成電路上的干擾放射源。首先使用探頭LF-R 400從遠(yuǎn)距離探測模塊的干擾發(fā)射情況,接下來再用更高分辨率的探頭LF-B 3、 LF-U 5和LF-U 2.5對干擾源進(jìn)行更的定位。采用這些探頭可以測量單個引腳、較大元件和結(jié)構(gòu)件。
這些近場探頭小巧輕便,并采用外皮電流衰減和電屏蔽設(shè)計。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內(nèi)部沒有50Ω的終端阻抗。
Delivery content details
LF-R 400, 磁場探頭(100 KHz - 50 MHz)
LF-R 400
磁場探頭(100 KHz - 50 MHz)
LF-R 400型磁場探頭,因其直徑(25mm)較大而具有很高的靈敏度,適合測量10cm范圍以內(nèi)的集成電路板和設(shè)備。
LF-B 3, 磁場探頭(100KHz-50MHz)
LF-B 3
磁場探頭(100KHz-50MHz)
Langer-EMV LF1 set 近場探頭組Near-Field Probes
LF-B3型磁場探頭的測量線圈相對垂直于探頭柄。當(dāng)探頭豎直放置電路板上時,其測量線圈直接平放在電路板的表面上。由此就能夠測量到印刷電路板表面上很難達(dá)到的一些位置,如開關(guān)調(diào)節(jié)器的大元件之間的位置。
LF-U 2.5, 磁場探頭(100KHz-50MHz)
LF-U 2.5
磁場探頭(100KHz-50MHz)
LF-U2.5型磁場探頭是一個近場探頭,適用于選擇性檢測導(dǎo)線、SMD元件和集成電路引腳中的高頻電流。這個探頭頂端有一個約0.5mm寬的磁場敏感缺口。
LF-U 5, 磁場探頭(100KHz-50MHz)
LF-U 5
磁場探頭(100KHz-50MHz)
LF-U5型磁場探頭特別適合于檢測寬的導(dǎo)線、電纜、端口、電子元件及其連接件處等產(chǎn)生的磁場。這種磁場探頭的工作方式類似于電流鉗。