高壓樣品盤（24-150巴）
這種樣品盤在試驗(yàn)全過程中均將樣品包裹在一個(gè)密封的環(huán)境中。密封裝置可抑制溶劑蒸發(fā)或者
阻止易揮發(fā)性反應(yīng)產(chǎn)物向外散發(fā)，從而可以消除蒸發(fā)散熱所引起的干擾效應(yīng)。
樣品盤 工作溫度范圍 體積（μL） 壓力 數(shù)量 壓蓋器（密封器） 部件編號(hào)
不銹鋼盤、盤蓋和O形圈 -40°至
300°C 60 24巴 20帶有B0505340的B0139005
或者帶有樣品盤03191047的
樣品盤 09908467  樣品盤03190218不銹鋼盤、盤蓋和O形圈 -40°至
300°C 60 24巴 1000帶有B0505340的B0139005
或者帶有樣品盤03191047的
樣品盤 09908467樣品盤03190029高壓不銹鋼盤、盤蓋和密封帶1 -170°至
400°C 30 150巴 5 B0182864 B0182901高壓鍍金盤和盤蓋1 -170°至
400°C 30 150巴 5 B0182864 B0182902高壓鈦盤、盤蓋和密封帶2 -170°至
400°C 30 150巴 5 B0182864 B0182903高容量鋁制樣品盤和盤蓋2 -170°至
500°C 70 30巴 40 N5356027或N5356028 N5356002低容量鋁制樣品盤和盤蓋3 -170°至
500°C 15 30巴 40 N5356027或N5356028 N5356003

N0777877美國PE樣品盤供應(yīng)
N0777822 20 Position Super Sample Rack for 125 mL ICP 樣品盤
N0777823 15 Position Super Sample Rack for 250 mL ICP 樣品盤
N0777876 Rack Adapter 80-Position Rack ICP 樣品盤
N0777877 Rack Adapter Bel-Art Rack ICP 樣品盤
N2410320 Tin Sample Pans and Cover TEA 錫制樣品盤和蓋
N5190180 DSC 7 Alumina Sample Pan, Pkg. 6 TEA 鋁制樣品盤和蓋
N5190280 Platinum Sample Pan, Pkg. 4 TEA 實(shí)驗(yàn)室用鉑金樣品盤
N5201023 STA6000/TGA4000 Pt/Rh Pans 2.5mm, High TEA 實(shí)驗(yàn)室用鉑金樣品盤
N5203115 Hyper DSC Aluminum Sample Pan, Pkg. 100 TEA 鋁制樣品盤和蓋
N5320102 Platinum Pan Kit, Qty. 2 TEA 實(shí)驗(yàn)室用鉑金樣品盤
N5356012 Aluminum Sample Pan, 45 #L, Pkg. 400售完即止 TEA 鋁制樣品盤和蓋
N5370562 Pyris 1 TGA A/S Sample Pan Kit, Pkg. 5 TEA 實(shí)驗(yàn)室用鉑金樣品盤
N8152814 Sample Rack, 48 Vial Adapter, PP MAS 樣品盤

美國珀金埃爾默樣品盤02190062供應(yīng)
Material Description Product line 品類
02190041 Aluminum Pans and Covers Pkg. 400 TEA 樣品盤
02190062 Aluminum Volatile Pans/Covers Pkg. 400 TEA 樣品盤
03190026 Copper Pans & Covers Pkg. 200 TEA 樣品盤蓋
B0143003 Aluminum Covers 0.1 mm, Pkg. 400 TEA 鋁制樣品盤和蓋
B0143004 Aluminum Covers 0.15 mm Pkg. 400 TEA 鋁制樣品盤和蓋
B0143015 Aluminum Pans, 10 #L, Pkg. 400 TEA 鋁制樣品盤和蓋
B0143016 Aluminum Pans, 30 #L, Pkg. 400 TEA 鋁制樣品盤和蓋
B0143017 Aluminum Pans, 50 #L, Pkg. 400 TEA 鋁制樣品盤和蓋
B0143018 Aluminum Pans w/Holes, 30 #L, Pkg. 400 TEA 鋁制樣品盤和蓋
B0143021 Aluminum Pans, 40 #L, Pkg. 400 TEA 鋁制樣品盤和蓋
B0169321 Robotic Pans and Covers, 50 #L, Pkg. 400 TEA 鋁制樣品盤和蓋
B0198030 DPA 7 Alum Capsule and Qtz Cover Pkg 100 TEA 鋁制樣品盤和蓋
L1185305 High-Performance Sample Dish for Spinner IR 鋁制樣品盤和蓋

美國珀金埃爾默PE鋁制樣品盤和盤蓋
鋁制盤 170°至600°C 30 1巴 400 B0139005 B0143016鋁制盤 -170°至600°C 50 1巴 400 B0139005 B0143017鋁制盤和盤蓋 -170°至600°C 20 2巴 400 帶有B0144637的樣品盤02190061  或B0139005 樣品盤02190062
鋁制盤和盤蓋 -170°至600°C 10 3巴 400 B0139005 B0169319鋁制盤和盤蓋 -170°至600°C 30 3巴 400 B0139005 B0169320鋁制盤和盤蓋 -170°至600°C 50 3巴 400 B0139005 B0169321無涂層式鋁制樣品盤和盤蓋 -170°至500°C 7.5 3巴 200 N5356027或N5356028 N5356008鋁制盤和盤蓋的啟動(dòng)套裝 3巴 200/200 B0139005 B0510800光電DSC盤
用于光電熱量分析的鋁制盤 -170°至600°C 12.5 環(huán)境壓力 100 不需要 B0196858鋁制盤和石英蓋 -170°至600°C 12.5 環(huán)境壓力 100 不需要 B0198030石英蓋 10 B0181091與DSC 4000、DSC 6000、DSC 8000、DSC 8500、Diamond DSC、Pyris 1 DSC、DSC 7、DSC 6、Pyris 6 DSC和Jade DSC
配合使用與Sapphire DSC配合使用
*與B0143015、B0143016和B0143017配合使用
**50微米孔；用于沸點(diǎn)、蒸發(fā)散熱以及升華物研究