錦正茂 三維磁場探針臺測試系統(tǒng) 半導體測試
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錦正茂-三維磁場探針臺測試系統(tǒng)-半導體測試

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產(chǎn)品 探針臺
用途 半導體材料測試
規(guī)格 三維磁場型
線圈材質 耐高溫漆包線
磁場均勻性 中心區(qū)50毫米球體內1%
磁場分辨率 0.05 mT
角度分辨率 0.02°
樣品固定方式 吸盤或者壓片
樣品臺直徑 50mm可定制
探針材料 鎢/鈹銅/GGB
漏電精度 100fA
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公司名稱 北京錦正茂科技有限公司
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地址 北京市大興區(qū)