廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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直讀光譜儀的誤差來源

一、偶然誤差的來源

與樣品成分不均勻有關(guān)的誤差。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結(jié)構(gòu)的不均勻性，導(dǎo)致不同部位的分析結(jié)果不同而產(chǎn)生偶然誤差。主要原因如下：

直讀光譜儀

(1)熔煉過程中帶入夾雜物，產(chǎn)生的偏析等造成樣品元素分布不均。

(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。

火花直讀光譜儀主要特點

儀器特點：

1． 使用靈活，性能可靠，穩(wěn)定性好。

2． 儀器檢測限低，分析精密度高，結(jié)果準確。

3． 分析速度快(20～30秒)，運行成本低。

4． 維護方便，故障率低。

5． 抗環(huán)境干擾能力強。

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光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意的事項

分光計的選擇

一般是根據(jù)分析元素及其測定范圍、鄰近譜線對分析線影響的程度等因素，考慮色散率、測定波長范圍和亮度來選定。

分析線的選擇

分析元素和內(nèi)標元素的譜線應(yīng)選擇受其他元素譜線及帶光譜等影響小、信噪比大的譜線。

對直讀光譜儀射線強度有影響的因素

不均勻效應(yīng)

不均勻效應(yīng)是指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對熒光X射線強度的影響。對于粉末樣品，大顆粒吸收效應(yīng)強，小顆粒吸收效應(yīng)弱，因此，要求顆粒粒度盡量小一些，以減少對X射線的吸收。測短波X射線時，要求粒度在250目以上，測量波長大于0.2nm的長波x射線時，則粒度要求在400目以上。

固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓實并使表面平滑。粗糙表面會使熒光X射線的強度明顯下降。測量短波X射線時，光潔度在1005m左右，測量長波X射線時，光潔度為20-50Mm。

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火花直讀光譜儀制樣要求：

一般情況下，鋁、銅等有色金屬基體的試樣需要車或銑，鐵、鎳等黑色金屬基體的試樣可以磨制（鑄態(tài)試樣需要先切割）。要求磨制后的樣品表面平整潔凈、紋路清晰、溫度適宜。另外，不同基體的樣品盡量不要在同一砂紙制樣。

其中鑄鐵必須白口化后才能分析，白口化時應(yīng)注意以下幾點：

1、不要澆鑄過快，避免偏析；

2、一般多用樣模澆鑄，樣模盡量取直徑35-40mm，厚6-8mm，這樣試樣冷卻快，白口好，待鐵水澆后30秒左右取出，開水澆再冷水冷。

儀德直讀光譜儀在鑄造行業(yè)的真正作用

把材料的冶煉看做是煉金術(shù)，加入各種元素，合成不同性質(zhì)的金屬，但是我們的成品沒有那么明顯可以看出來成功沒有，所以為了進一步對材料進行分析，德儀火花直讀光譜儀出現(xiàn)了。當然不只是它，還有很多分析儀器小伙伴出現(xiàn)，比如紅外線碳硫分析儀。

但是儀德火花直讀光譜儀占據(jù)大部分市場，為何？因為他的一些優(yōu)點讓它在客戶需求上有較大市場，使得它流通性廣。

所以儀德德火花直讀光譜儀在鑄造，冶煉以及其他金屬加工企業(yè)中必不可少，作為一種分析手段，一下子可以測出多種元素的含量，成為在品質(zhì)工藝上至關(guān)重要的工具。