濟(jì)寧儒佳檢測(cè)儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 其他專用儀器儀表
國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀-儒佳檢測(cè)-便攜式涂層測(cè)厚儀器
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涂層測(cè)厚儀的歸類及其測(cè)量基本原理 對(duì)原材料表層維護(hù)、裝飾設(shè)計(jì)產(chǎn)生的土壤層,如鍍層、鍍層、敷層、貼層、有機(jī)化學(xué)轉(zhuǎn)化成膜等,在相關(guān)我國(guó)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中稱之為覆層(coating)。 覆層厚度測(cè)量已變成生產(chǎn)加工、金屬表面處理質(zhì)量檢驗(yàn)的重要一環(huán),是商品做到產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的方式。為使商品現(xiàn)代化,在我國(guó)出口產(chǎn)品和對(duì)外新項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度擁有確立的規(guī)定。 覆層厚度的測(cè)量方式 關(guān)鍵有:楔切法、光截法、電解水、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反方向法、電容器法、帶磁測(cè)量法及渦旋測(cè)量法等。這種方式 中前五種是不利于檢驗(yàn),測(cè)量方式繁雜,速度比較慢,多適用品質(zhì)檢驗(yàn)。 X射線和β射線法是無(wú)觸碰高質(zhì)量測(cè)量,但設(shè)備繁雜價(jià)格昂貴,測(cè)量范疇較小。因數(shù)字功放,使用人務(wù)必遵循射線防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)。X射線法能測(cè)特薄鍍層、雙鍍層、鋁合金鍍層。β射線法合適鍍層和的墻面或者材料分子編號(hào)超過3的鍍層測(cè)量。電容器法僅在薄電導(dǎo)體的絕緣層覆層測(cè)厚時(shí)選用。 伴隨著技術(shù)性的日漸發(fā)展,非常是近些年引進(jìn)微型機(jī)技術(shù)性后,選用帶磁法和渦旋法的涂層測(cè)厚儀向小型、智能化、智能、、產(chǎn)品化的方位進(jìn)了一步。測(cè)量的屏幕分辨率已達(dá)0.1微米,精密度可做到1%,擁有大幅的提升。涂層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域廣,測(cè)量范圍寬、實(shí)際操作簡(jiǎn)單且質(zhì)優(yōu)價(jià)廉,是工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究應(yīng)用*普遍的測(cè)厚儀器。
涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀主要是運(yùn)用感應(yīng)線圈原理或是電渦旋測(cè)量原理等來測(cè)量吸磁原材料上的非磁性涂層厚度。涂層測(cè)厚儀測(cè)量省時(shí)省力,而且測(cè)量偏差小、可信性高,在商品開展涂層生產(chǎn)加工時(shí)能夠 有確保產(chǎn)品品質(zhì),因此廣泛運(yùn)用于機(jī)械加工制造和檢驗(yàn)制造行業(yè)。涂層測(cè)厚儀可高質(zhì)量地測(cè)量帶磁金屬材料基體(如鋼、鐵、鋁合金和硬帶磁鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、掐絲琺瑯、硫化橡膠、漆料等)及非磁性金屬材料基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電性覆層的厚度(如:掐絲琺瑯、硫化橡膠、漆料、塑膠等)。涂鍍層測(cè)厚儀具備測(cè)量偏差小、可信性高、可靠性好、實(shí)際操作簡(jiǎn)單等特性,是操縱和確保產(chǎn)品品質(zhì)不可或缺的測(cè)試儀器,普遍地運(yùn)用在加工制造業(yè)、金屬材料制造業(yè)、工業(yè)、報(bào)檢等檢驗(yàn)行業(yè)。
涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀 壁厚測(cè)量:測(cè)量時(shí),攝像頭切分面可各自沿管件的軸線或豎直管件的軸線測(cè)量,這時(shí)顯示屏上的讀數(shù)將有標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)變,挑選讀數(shù)中的值做為材料的薄厚。若管徑大時(shí),應(yīng)在豎直軸線的方位測(cè)量,管徑鐘頭,則挑選順著軸線方位和豎直軸線方位二種測(cè)量方式,取讀數(shù)中的值做為鋼件的薄厚值。 鑄件測(cè)量:鑄件材料的測(cè)量有其獨(dú)特性。鑄件材料的晶體較為粗壯,機(jī)構(gòu)不足高密度,再再加通常處在糙面情況就開展測(cè)量,因而使測(cè)量碰到很大的艱難。故對(duì)鑄件測(cè)量時(shí)要留意以下內(nèi)容: 1.應(yīng)用低頻攝像頭,如本企業(yè)的 ZT-12 攝像頭。 2.在測(cè)量表層不生產(chǎn)加工的鑄件時(shí),務(wù)必選用黏度很大的汽車機(jī)油,無(wú)鹽黃油和硅酸鈉作耦合劑。 3.與待測(cè)物同樣的材料,測(cè)量方位與被測(cè)物也同樣的規(guī)范試塊校正材料的波速參考文獻(xiàn):