偏心的光闌

近軸光線計算入瞳大小以及位置會忽略面的傾斜以及偏心。因此，近軸入射光瞳的頂點總是沿著物空間局域Z軸的延長線上。如果光闌面相對于近軸入瞳有顯著偏心或傾斜，就需要使用光線瞄準，即使在物面以及光闌之間沒有任何光學元件存在，請看下圖

總結

本文已經展示了基本的光線瞄準的概念及其序列模式下的一般使用方式。綜上所述：

1、只有在需要時才使用光線瞄準。

2、優(yōu)先使用Paraxial Ray Aiming。

3、光線瞄準不會消除光瞳像差，而是在選擇輸入光線時考慮像差。

4、使用光線瞄準，并在系統(tǒng)孔徑設定“float by sto1p size”時，可以用來強迫光線填滿使用者設定的光闌尺寸。

5、具有偏心/傾斜光闌的系統(tǒng)也許會需要光線瞄準。

它們可以用來表示LED的芯片、電極線、封裝點等?？梢栽诓煌矬w的表面上添加詳細的光學屬性，然后進行大量的光線追跡。 該光源模型可以直接進行光線追跡，或者將光源產生的光線保存在光線數(shù)據(jù)庫中。在分析選項卡 -> 光線數(shù)據(jù)庫查看器 (Ray Database Viewer) 中，您可以選擇一個測試物體，并將所有入射到該物體的光線保存為一個 新的光源文件。

我們還可以光線追跡的開始時，使用保存光線功能將光線保存為SDF或DAT格式的文件。例如，如果想要保存入射到物體4的光線， 保存光線的語法如下所示（其中“4-”表示物體的編號）：

新的數(shù)據(jù)文件將導入到非序列元件編輯器中，以進行后續(xù)的光線追跡。 然而，復雜幾何體光源存在一個比較大的問題：你需要知道所有輸入數(shù)據(jù)的具體值！例如，電極線的表面應該使用什么樣的散射函數(shù)？基底封裝的反射率是多少？類似這樣的數(shù)據(jù)并不容易獲取。最后，復雜模型的光源數(shù)據(jù)必須與測試數(shù)據(jù)相符。這就帶來另一個問題，為什么不直接使用測量的數(shù)據(jù)呢？ 通常來講，使用測量的數(shù)據(jù)更加準確并且操作方便。但是對于某些系統(tǒng)來說，特別是光源中產生的光線會反射回光源物體處并重新成像時，建立一個準確的復雜幾何體光源是值得的。 兩種方式也可以同時使用：定義復雜物體的同時使用測量的文件光源發(fā)射初始光線。