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西安天光測控技術有限公司
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店齡6年 · 
企業(yè)認證 · 
陜西省西安市 
西安天光測控技術有限公司
主營產品： 高溫反偏差測試系統, 半導體器件測試篩選系
専專尋尊尃将射將専射尉
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天光測控-晶體管圖示儀
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商品參數
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商品介紹
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聯系方式
加工定制 加工
品牌 天光測控
型號 ST-SP 2000
測量范圍 0~2000V，0~100A
測量精度 1mV，10pA
測試范圍 19類器件（IGBT，MOS,Diode等）
測試項目 靜態(tài)參數及曲線追蹤掃描
商品介紹
晶體管圖示儀
ST-SP2000系列
可測試 19大類27分類 的大中小功率分立器件及模塊的 靜態(tài)直流參數
（測試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極2000V / 50~1250A，分辨率最高至1mV / 10pA
支持曲線掃描圖示功能
可測試 19大類27分類 的大中小功率分立器件及模塊的 靜態(tài)直流參數
（測試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極2000V / 50~1250A，分辨率最高至1mV / 10pA
支持曲線掃描圖示功能
?產品應用
晶體管圖示儀
應用領域
軍工院所、高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業(yè)鏈 ……
主要用途
? 測試分析（功率器件研發(fā)設計階段的初始測試）
? 失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案 ）
? 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
? 來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
? 產線自動化測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規(guī)?；?、自動化測試）
?產品簡述
應用領域
軍工院所、高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業(yè)鏈 ……
主要用途
? 測試分析（功率器件研發(fā)設計階段的初始測試）
? 失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案 ）
? 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
? 來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
? 產線自動化測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規(guī)?；?、自動化測試）
?產品簡述
晶體管圖示儀
產品擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態(tài)和測試結果,前面板的功能按鍵方便了
系統操作。通過功能按鍵，系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。
曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準確地生成精確的數據點。數據增量是可編程的線性或對數，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數據點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET
RDSvs. VGS 等曲線數據。此外， 針對多條曲線，設備可以根據每條曲線的數據運行并將所獲數據自動發(fā)送到一個單獨的 Excel 工作表。系統能夠更快，更簡潔的創(chuàng)建曲線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。設備支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力，在運行過程中，每個圖表都是可視的，每個數據集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統運行速度快，可進行數據記錄，提供更高級的數據工具箱，能夠運行多條曲線并自動排序，自動將數據存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標重新運行功能以及其他許多優(yōu)點。
系統提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。
產品擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態(tài)和測試結果,前面板的功能按鍵方便了
系統操作。通過功能按鍵，系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。
曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準確地生成精確的數據點。數據增量是可編程的線性或對數，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數據點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET
RDSvs. VGS 等曲線數據。此外， 針對多條曲線，設備可以根據每條曲線的數據運行并將所獲數據自動發(fā)送到一個單獨的 Excel 工作表。系統能夠更快，更簡潔的創(chuàng)建曲線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。設備支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力，在運行過程中，每個圖表都是可視的，每個數據集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統運行速度快，可進行數據記錄，提供更高級的數據工具箱，能夠運行多條曲線并自動排序，自動將數據存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標重新運行功能以及其他許多優(yōu)點。
系統提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。
?可供選擇的曲線
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公司名稱 西安天光測控技術有限公司
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