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深圳市新晨陽電子有限公司
主營產(chǎn)品: 其他電容器
風(fēng)華高科-安規(guī)獨(dú)石電容封裝-104獨(dú)石電容代理
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貼片電容容值偏低?怎么解決?
1、量測儀器差異對量測結(jié)果的影響對策:
在測量貼片電容容值時將儀器調(diào)校并將儀器的設(shè)定電壓與實(shí)際加在產(chǎn)品兩端所測電壓盡量調(diào)整,使實(shí)際加載在待測物上的電壓和輸出電壓一致。
2、測試條件對量測結(jié)果的影響的對策:
對于不同容值的貼片電容會采用不同的測試電壓和測試頻率來量測其容值。
3、量測環(huán)境條件對量測結(jié)果的影響的解決對策:
將產(chǎn)品放置在20℃的環(huán)境下一段時間,使材料在較穩(wěn)定的測試環(huán)境下再進(jìn)行測試。
4、MLCC產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象的解決對策:
高溫烘烤:將測試容量偏低的產(chǎn)品放置在環(huán)境溫度為:150℃條件下烘烤1hour。然后在常溫25℃下放置24小時,再行測試,容值將恢復(fù)到正常規(guī)格范圍內(nèi);
或者將測試容量偏低的產(chǎn)品浸至錫爐或過回流焊后,再進(jìn)行測試,容值將恢復(fù)到正常規(guī)格范圍內(nèi)。
電容爆漿的原因有很多,比如電流大于允許的穩(wěn)波電流、使用電壓超出工作電壓、逆向電壓、頻繁的充放電等。但是最直接的原因就是高溫。
我們知道電容有一個重要的參數(shù)就是耐溫值,指的就是電容內(nèi)部電解液的沸點(diǎn)。
當(dāng)電容的內(nèi)部溫度達(dá)到電解液的沸點(diǎn)時,電解液開始沸騰,電容內(nèi)部的壓力升高,當(dāng)壓力超過泄爆口的承受極限就發(fā)生了爆漿。
所以說溫度是導(dǎo)致電容爆漿的直接原因。電容設(shè)計使用壽命大約為2萬小時,受環(huán)境溫度的影響也很大。
電容的使用壽命隨溫度的增加而減小,實(shí)驗(yàn)證明環(huán)境溫度每升高10℃,電容的壽命就會減半。
主要原因就是溫度加速化學(xué)反應(yīng)而使介質(zhì)隨時間退化失效,這樣電容壽命終結(jié)。
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當(dāng)電容較小時,主要取決于電容的表面狀態(tài),容量〉0.1uf時,主要取決于介質(zhì)的性能,絕緣電阻越大越好。
電容的時間常數(shù):為恰當(dāng)?shù)脑u價大容量電容的絕緣情況而引入了時間常數(shù),他等于電容的絕緣電阻與容量的乘積。
損耗電容在電場作用下,在單位時間內(nèi)因發(fā)熱所消耗的能量叫做損耗。
各類電容都規(guī)定了其在某頻率范圍內(nèi)的損耗允許值,電容的損耗主要由介質(zhì)損耗,電導(dǎo)損耗和電容所有金屬部分的電阻所引起的。
在直流電場的作用下,電容器的損耗以漏導(dǎo)損耗的形式存在,一般較小,在交變電場的作用下。
電容的損耗不僅與漏導(dǎo)有關(guān),而且與周期性的極化建立過程有關(guān)。
頻率特性隨著頻率的上升,一般電容器的電容量呈現(xiàn)下降的規(guī)律。
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