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深圳市新晨陽電子有限公司
主營產(chǎn)品: 其他電容器
安規(guī)鉭電容尺寸-固態(tài)電容貼片鉭電容耐壓-風(fēng)華高科
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貼片電容全稱為:多層(積層,疊層)片式陶瓷電容器,也稱為貼片電容,片容。
貼片電容有兩種尺寸表示方法,一種是以英寸為單位來表示,一種是以毫米為單位來表示,貼片電容的系列型號有0402、0603、0805、1206、1210、1808、1812、2010、2225、2512,這些是英寸表示法, 04 表示長度是0.04 英寸,02 表示寬度0.02 英寸,其他類同型號尺寸(mm)
英制尺寸 公制尺寸 長度及公差 寬度及公差 厚度及公差
0402 1005 1.00±0.05 0.50±0.05 0.50±0.05
0603 1608 1.60±0.10 0.80±0.10 0.80±0.10
0805 2012 2.00±0.20 1.25±0.20 0.70±0.20 1.00±0.20 1.25±0.20
1206 3216 3.00±0.30 1.60±0.20 0.70±0.20 1.00±0.20 1.25±0.20
1210 3225 3.00±0.30 2.54±0.30 1.25±0.30 1.50±0.30
1808 4520 4.50±0.40 2.00±0.20 ≤2.00
1812 4532 4.50±0.40 3.20±0.30 ≤2.50
2220 57505.70±0.40 5.00±0.30 ≤2.50
2225 5763 5.70±0.50 6.30±0.50 ≤2.50
3035 7690 7.60±0.50 9.00±0.05 ≤3.00
很多客戶買到貼片電容回去測試以后發(fā)現(xiàn)貼片電容的容值就有偏低的現(xiàn)象,這時可能會會認(rèn)為我們存在欺騙買家的行為,其實不是的。下面我們來分析一下貼片電容的容值為什么會偏低?導(dǎo)致貼片電容偏低的因素有什么?下面我們一起來分析一下。
1. 測試條件對測量結(jié)果的影響
對于貼片電容偏低的我們可以考慮一下測試條件對貼片電容容值的影響。對于不同容值的貼片電容需要采用不同的測試條件來測量容值,主要在測試電壓的設(shè)定和測試頻率的設(shè)定上有區(qū)別,貼片電容不同容值的測試條件為:
電容AC電壓頻率
容量>10uF 1.0±0.2Vrms 120Hz
1000pF<容量≤10uF 1.0±0.2Vrms 1KHz
容量≤1000pF 1.0±0.2Vrms 1MHz
2. 測量儀器的差異對測量結(jié)果的影響
大容量的電容(指1uF以上的容值)測量時更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象,造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電壓兩端的實際電壓不能達(dá)到測試條件所需求的電壓,這是因為加在電容兩端的測試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了使測量結(jié)果誤差降,我們建議將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實際加在電容兩端所測的電壓盡量調(diào)整,使實際于待測電容上輸出的電壓一致。
電容爆漿的原因有很多,比如電流大于允許的穩(wěn)波電流、使用電壓超出工作電壓、逆向電壓、頻繁的充放電等。但是最直接的原因就是高溫。
我們知道電容有一個重要的參數(shù)就是耐溫值,指的就是電容內(nèi)部電解液的沸點(diǎn)。
當(dāng)電容的內(nèi)部溫度達(dá)到電解液的沸點(diǎn)時,電解液開始沸騰,電容內(nèi)部的壓力升高,當(dāng)壓力超過泄爆口的承受極限就發(fā)生了爆漿。
所以說溫度是導(dǎo)致電容爆漿的直接原因。電容設(shè)計使用壽命大約為2萬小時,受環(huán)境溫度的影響也很大。
電容的使用壽命隨溫度的增加而減小,實驗證明環(huán)境溫度每升高10℃,電容的壽命就會減半。
主要原因就是溫度加速化學(xué)反應(yīng)而使介質(zhì)隨時間退化失效,這樣電容壽命終結(jié)。
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