品牌 博微
功率 5KW
重量 100
規(guī)格 BW-IFSM/ITSM
是否進口 否
適用范圍 半導體浪涌測試
商品介紹
BW-IFSM/ITSM
半導體浪涌測試系統(tǒng)
產(chǎn)品用途:BW-IFSM/ITSM可用于各類二極管(Diode)以及可控硅(SCR)的正向浪涌電流(IFSM)試驗,包括三極管(Triode)、MOSFTE、IGBT等全控器件的內(nèi)置二極管的浪涌測試。
二極管元件在實際使用中,除了能長期通過額定通態(tài)平均電流外,還應(yīng)能承受一定倍數(shù)的浪涌過載電流而不致?lián)p壞,以便適應(yīng)在各種應(yīng)用中的要求。二極管浪涌過載電流如果超過其允許范圍,輕者引起元件性能變壞(如伏安特性、通態(tài)峰值電壓的變化),重者造成燒毀穿通而失去反向阻斷能力。通過浪涌過載電流測試合格的器件,可以大大提高其在使用中的可靠性。
技術(shù)指標:
> 浪涌電流(IFSM/ITSM)調(diào)節(jié)范圍:0.30~3.60kA
> 分辨率0.01kA,精度±3%±0.01kA
> 電流波形:正弦半波,底寬10ms
> 測試頻率:單次
> 反向電壓(VRRM)調(diào)節(jié)范圍:0.20~2.00kV,分辨率0.01kV,精度±5%
> 反向電壓測試頻率:50Hz;
> 反漏電流(IRRM)測試范圍;1.0~100.0mA,分辨率0.1mA,精度±5%±0.1mA
工作方式:
> 由觸摸液晶屏設(shè)定浪涌電流大小、反向電壓值及反向漏電流保護值
> 按測試按鍵后設(shè)備自動完成測試
外形尺寸:
> 600×800×1900×1(寬×深×高×并柜數(shù),單位:mm)
系統(tǒng)說明:
> 上述設(shè)備配置輸出及測試線,但不含測試用“夾具”。該“夾具”用于滿足元件按照標準進行測試時所要求的溫度和壓力測試條件。
聯(lián)系方式