熱阻抗測(cè)試儀_陜西天士立科技ST-HeatX優(yōu)替T3Ster_Phase11_熱阻抗測(cè)試儀
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熱阻抗測(cè)試儀_陜西天士立科技ST-HeatX優(yōu)替T3Ster_Phase11_熱阻抗測(cè)試儀
熱阻抗測(cè)試儀_陜西天士立科技ST-HeatX優(yōu)替T3Ster_Phase11_熱阻抗測(cè)試儀

熱阻抗測(cè)試儀-陜西天士立科技ST-HeatX優(yōu)替T3Ster-Phase11-熱阻抗測(cè)試儀

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發(fā)貨地 陜西省西安市
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商品參數(shù)
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商品介紹
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品牌 天士立
重量 5.6kg
用途 半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試
尺寸 35*23.4*18.9
電源 220v
種類 熱分析儀
分辨率 0.01A
溫度范圍 -35℃~180℃
溫度誤差 ≤0.1℃
輸出誤差 ≤0.1V + 0.5%set
最高采樣頻率 1MHZ
商品介紹

熱阻抗測(cè)試儀“陜西天士立科技有限公司”研發(fā)生產(chǎn)_平替T3Ster_Phase11熱特性測(cè)試儀。產(chǎn)品符合JESD 51-1、JESD 51-14標(biāo)準(zhǔn)，用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多種類型功率器件及其模組瞬態(tài)熱阻抗、熱結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)函數(shù)輸出（16600001664-VX）

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的產(chǎn)品特點(diǎn)

超高精度：溫度(T;)分辨率0.01℃℃，1MHz變頻采樣:

技術(shù)領(lǐng)先：第三代瞬態(tài)熱測(cè)試技術(shù)，可輸出結(jié)構(gòu)函數(shù)進(jìn)行熱結(jié)構(gòu)分析

行業(yè)領(lǐng)先：具備4路高速高精度采集模塊，采樣速度，精度均達(dá)到行業(yè)頂尖水平

架構(gòu)領(lǐng)先：采用B/S架構(gòu)控制系統(tǒng)、可遠(yuǎn)程對(duì)設(shè)備進(jìn)行狀態(tài)監(jiān)控和控制，實(shí)現(xiàn)智能化;

瞬態(tài)監(jiān)測(cè)：連續(xù)采集加熱和冷卻區(qū)的結(jié)溫變化，同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)數(shù)據(jù);

NPS技術(shù)：同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)(NTC/PTC)和結(jié)溫?cái)?shù)據(jù)，形成數(shù)據(jù)關(guān)系矩陣。

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的應(yīng)用場(chǎng)景

器件結(jié)殼熱阻測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

Die-Attach熱阻測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

DBC/AMB基本熱特性測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

界面熱阻測(cè)量與分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

PCB板級(jí)散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

散熱器性能測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

TIM材料熱導(dǎo)率測(cè)試ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

熱缺陷檢測(cè)ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“功能指標(biāo)”

 

產(chǎn)品品牌

天士立

 

產(chǎn)品型號(hào)

ST-HeatX

 

產(chǎn)品名稱

半導(dǎo)體熱特性測(cè)試系統(tǒng)

 

主要功能

適用于多種類型功率器件及其模組的瞬態(tài)熱阻抗、熱結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)函數(shù)輸出

 

試驗(yàn)對(duì)象

DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT、HEMT、GTO、IC

 

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG 324等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求

 

試驗(yàn)?zāi)Ｊ?/span>

DIODE模式

SAT模式

IGBT模式

RDSON模式

HEMT模式

 

門控電源

數(shù)量 4

輸出方式 隔離輸出

輸出范圍 -10V ~ 20V

輸出誤差 ≤0.1V + 0.5%set

分辨率 0.01V

 

NTC/PTC

數(shù)據(jù)同步

采集

NTC測(cè)量范圍 250kΩ ? 100Ω

PTC測(cè)量范圍 100Ω ? 250kΩ

最高采樣頻率 1MHZ

同步時(shí)間誤差 ≤1μs

 

柵極漏電

測(cè)量

量程分辨率1nA ~ 850nA@0.01nA

量程分辨率850nA ~ 1mA@0.01uA

 

加熱電源

量程 30A / 10V

電流輸出誤差 ≤0.05A + 0.1%set

電流設(shè)定分辨率 0.01A

開(kāi)關(guān)速度1μs

 

測(cè)溫電流源

（主）

量程 ±0.1A ~ ±1A / 10V

分辨率 1mA

誤差 ≤2mA + 0.5%set

 

測(cè)溫電流源

（輔）

量程 0 ~ 100mA / 10V

分辨率 0.01mA

誤差 0~10mA ≤50μA + 0.5%set

誤差 10 ~ 100mA ≤0.5mA + 0.5%set

 

測(cè)量通道

數(shù)量 4

動(dòng)態(tài)電壓測(cè)量范圍 ±5V(差分模式)

動(dòng)態(tài)電壓測(cè)量誤差 ≤1mV + 0.5%set

動(dòng)態(tài)電壓量程 100mV、200mV、400mV、800mV

動(dòng)態(tài)電壓分辨率 1.6μV

采樣頻率 最高1MHz

采樣模式 連續(xù)變頻采樣

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“溫度系數(shù)標(biāo)定”


ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“瞬態(tài)熱測(cè)試”



四、數(shù)據(jù)處理與輸出

4.1、“數(shù)據(jù)處理與輸出”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)


4.2、“熱模型抽取”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)


4.3、“脈沖熱阻”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)



4.4、“安全工作區(qū)”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)



 

聯(lián)系方式
公司名稱 陜西天士立實(shí)業(yè)集團(tuán)
聯(lián)系賣家 王偉 （QQ：3698086484）
電話 䝑䝓䝔-䝕䝕䝓䝓䝏䝏䝔䝒
手機(jī) 䝒䝐䝒䝕䝘䝑䝔䝐䝒䝕䝑
地址 陜西省西安市
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