KLA-MicroXAM-800光學輪廓儀-基于白光干涉儀
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聯(lián)系人 劉峰 經(jīng)理
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發(fā)貨地 上海市虹口區(qū)
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商品參數(shù)
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商品介紹
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聯(lián)系方式
品牌 KLA
是否進口 是
型號 MicroXAM-800
別名 臺階儀
產品用途 科研
是否跨境貨源 是
規(guī)格 見詳情
加工定制 否
廣告有效期 長期有效
類型 光學輪廓儀
商品介紹
產品描述
MicroXAM-800光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)。MicroXAM的白光干涉儀可以埃級分辨率對表面進行高分辨率測量。 該系統(tǒng)支持相位和垂直掃描干涉測量,兩者都是傳統(tǒng)的相干掃描干涉技術(CSI)。MicroXAM進一步擴展了這些技術,它采用SMART Acquire為新手用戶簡化了程序設置,并且采用z-stitching干涉技術可以對大臺階高度進行高速測量。
MicroXAM測量技術的優(yōu)勢在于測量的垂直分辨率與物鏡的數(shù)值孔徑無關,因而能夠在大視野范圍內進行高分辨率測量。測量區(qū)域可以通過將多個視場拼接為同一個測量結果而進一步增加。 MicroXAM的用戶界面創(chuàng)新而簡單,適用于從研發(fā)到生產的各種工作環(huán)境。
主要功能
- 針對納米級到毫米級特征的相位和垂直掃描干涉測量
- SMART Acquire簡化了采集模式并采用已知最佳的程序設置的測量范圍輸入
- Z-stitching干涉技術采集模式,可用于單次掃描以及編譯多個縱向(z)距離很大的表面
- XY-stitching可以將大于單個視野的連續(xù)樣本區(qū)域拼接成單次掃描
- 使用腳本簡化復雜測量和工作流程分析的創(chuàng)建,實現(xiàn)了測量位置、調平、過濾和參數(shù)計算的靈活性
- 利用已知最佳技術,從其他探針和光學輪廓儀轉移算法
主要應用
- 臺階高度:納米級到毫米級的3D臺階高度
- 紋理:3D粗糙度和波紋度
- 形式:3D翹曲和形狀
- 邊緣滾降:3D邊緣輪廓測量
- 缺陷復檢:3D缺陷表面形貌
工業(yè)應用
- 大學、研究實驗室和研究所
- 半導體和化合物半導體
- LED:發(fā)光二極管
- 電力設備
- MEMS:微電子機械系統(tǒng)
- 數(shù)據(jù)存儲
- 醫(yī)療設備
- 精密表面
- 汽車
- 還有更多:請與我們聯(lián)系以滿足您的要求
聯(lián)系方式
公司名稱 納瑟(上海)納米科技有限公司
聯(lián)系賣家 劉峰
電話 㠖㠒㠗-㠓㠓㠗㠒㠔㠛㠘㠚
手機 㠗㠚㠛㠒㠗㠚㠘㠛㠙㠘㠘
地址 上海市虹口區(qū)